现在，最精准的长度测量仪器是列国的国度长度计量基准仪器，这些仪器界说了“米”这一长度单元。大部分计量连系机构大王人收受基于单波长激光的插手仪来进行超高精度的长度测量。
单波长激光的波形散播极为均匀，近似于尺子上等间距的刻度，使得测量精度不错达到纳米级别（1~10 纳米，即十亿分之一米）。可是，由于单波长激光的光谱带宽相配窄，这类长度基准仪器在一次测量中所能掩饰的距离边界受到放胆。换句话说，尽管刻度相配考究，但“尺子”自己却很短。
韩公模范科学连系院（KRISS）告捷研发了一种长度测量系统，其测量精度已接近量子物理所允许的表面极限。该系统在终了环球最初测量精度的同期，具备紧凑坚固的假想，顺应在现场部署，有望成为新一代长度计量的基准。连系驱散已发表在《Laser & Photonics Reviews》期刊上。
伸开剩余68%传统的窄线宽激光插手法为测量为渐变累计测量，关于超出激光波长边界的距离，必须将多个插手周期对应的测量驱散累加起来，这依赖万古期连续交的插手臂的空间转移，形成时间和空间上的双重放胆。
比拟之下，实足距离测量系统旨在对即兴位置的待测物进行一次性测量。这类系统频频通过从参考点发出光脉冲到狡计，并测量其来回时间来谋划距离。实足距离测量旨趣相对浮浅，易于袖珍化，粗略快速完成长距离测量，因此在工业限度得到平庸左右。但受限于现时本领，传统的实足距离测量系统的精度频频仅能达到数微米（µm）级别，因为以超高辞别率测量光的航行时间的探伤仍濒临缺欠本领挑战。
KRISS长度与尺寸计量连系组通过收受基于光学频率梳（OFC）的插手仪，告捷将实足距离测量系统的精度普及至国度长度基准的水平。
连系团队翻新性地将光学频率梳集成到基于光谱插手的实足距离测量系统中。光学频率梳的频谱由千千万万个龙套且等间距的频率线组成，近似于钢琴键盘。与传统插手光源比拟，光学频率梳不仅具有宽阔的光谱带宽，还领有极为精准的波长间隔，因此可在长距离边界内终了高精度测量。
KRISS研发的基于光学频率梳光谱插手的实足距离测量系统，兼具国度长度模范的精度和实足测量系统的便利性。其测量精度达到0.34纳米，是现存本领中精度最高的系统之一，接近量子物理所界说的极限精度。该系统的测量速率为25微秒（μs），不仅快速，还具备满盈的可靠性以适用于现场部署，在高技术行业中的精密计量限度具有广袤左右前程。
连系团队决策无间评估系统的测量不确定度并优化其性能，狡计是将其建设为下一代国度长度基准。
KRISS长度与尺寸计量连系组的高档连系员Jang Yoon-Soo博士指出：“未来诸如东谈主工智能半导体、量子本领等产业的竞争力，将取决于是否具备在纳米模范上精准测量和限度距离的才智。这次驱散是韩国朝着设置下一代长度模范强国迈出的紧要一步。”
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